ATW200 – 差動型光纖位移計

產品概要

ATW200的特點

差動型光纖位移計

• 3 MHz的響應性能！ 奈米級解析度！由於是真正的位移測量，而不是速度，即使是低頻下的微小移動也不會錯過！
• 使用可變低通濾波器，可以獲得最佳響應速度和解析度。
• 設定簡單!只需要靠近工件並校正一側反射率！

應用案例

測量原理

ATW200是差動型光纖位移計！敝社開發的差動型光纖位元。抑制測定物件的反射率影響並實現納米級的解析度和3 MHz的高速響應。

纖束的分於投光纖、受光纖A、受光纖B（參考圖1）。光源通過投光纖投射（參考圖2）、射出的光纖在測量面反射到受光纖。此時反射光變為環型、其環型徑對測定差距有變化。受光纖A和B和入射的光量PA、PB的關係為（參考圖3）。和算信號(PA+PB)為全反射光量，差信號（PB-PA）為差距（參考圖4）。差信號除和信號的信號是跟測定物件物的反射率無關係（參考圖5）